Test system testing cmos image sensor and driving method thereof

Cmos 이미지 센서를 테스트하는 테스트 시스템 및 이의 구동 방법

Abstract

본 발명의 실시 예에 따른 테스트 시스템은 프로브 카드를 통해서 적어도 하나의 CMOS 이미지 센서로 입력 및 제어신호를 전송하는 테스트 장치 및 상기 프로브 카드와 상기 테스트 장치 간에 맵핑하는 인터페이스 보드를 포함하고, 상기 인터페이스 보드는 상기 CMOS 이미지 센서로부터 이미지 신호를 수신하고, 상기 이미지 신호를 이미지 데이터로 변환하기 위한 출력 수신기를 포함한다.
According to the embodiment of the present invention, a test system includes: a test device configured to transmit an input signal and a control signal to at least one complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) image sensor via a probe card, and an interface board configured to map the probe card and the test device, wherein the interface board includes an output receiver configured to receive an image signal from the CMOS image sensor and to transform the image signal into an image data.

Claims

Description

Topics

Download Full PDF Version (Non-Commercial Use)

Patent Citations (0)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle

NO-Patent Citations (0)

    Title

Cited By (0)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle